Caractérisation et nettoyage du silicium. Caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide par Annie Baudrant

Caractérisation et nettoyage du silicium. Caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Titre de livre: Caractérisation et nettoyage du silicium. Caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Éditeur: Hermes Science Publications

ISBN: 2746206056

Auteur: Annie Baudrant


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  • Ouvrage neuf. Disponible en stock.

Annie Baudrant avec Caractérisation et nettoyage du silicium. Caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Depuis la réalisation du premier circuit intégré il y a plus de quarante ans, les étapes de fabrication en micro-électronique sont restées les mêmes. Les procédés ont cependant considérablement évolué, dans l'objectif de diminuer toutes les dimensions, pour intégrer toujours plus. Des techniques nouvelles et complexes se cachent aujourd'hui derrière un procédé de fabrication. Le présent ouvrage passe en revue l'ensemble des étapes élémentaires : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie. Sont également présentées les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Chaque étape fait l'objet d'un chapitre : le procédé, les équipements et la physique des techniques y sont détaillés.